測定基板製造／特性評価

基板製造・分析・信頼性試験・特性評価を提供し、
お客様の原理検証・先行開発をサポートします

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お客様の研究開発に向けた測定基板を製造します。

測定基板の分析を行います。

測定基板の信頼性試験を行います。

2枚の表面実装基板の回路図から１枚の部品内蔵基板を設計・製造し、基板の小型化を実現しました。

出所：第38回エレクトロニクス実装学会春季講演大会予稿集, 15B4-3, 2024年3月

無電解金めっき処理の金属層の違いによる微小な伝送損失の差異を測定しました。

出所：第39回エレクトロニクス実装学会春季講演大会予稿集, 11A1-3, 2025年3月

基板樹脂材料の違いによる半導体チップ発熱温度の差異を測定しました。

出所：第39回エレクトロニクス実装学会春季講演大会予稿集, 13B4-2, 2025年3月

バイパスコンデンサ配置の違いによる電源インピーダンスの差異を測定しました。

出所：第38回エレクトロニクス実装学会春季講演大会予稿集, 15B4-3, 2024年3月

大手企業のお客様はもちろんのこと、大学や研究所、
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